Фолькер Нойманн из Центра кремниевой солнечной энергетики им. Фраунгофера (CSP) получил премию за новаторские решения DIN при разработке метода испытания по определению дефектов в кремниевых фотоэлементах. Премия в сумме 3000 евро была вручена ученому за его тестер «PIDcon» на выставке в Ганновере во вторник.
Если солнечные батареи, состоящие из фотоэлементов, изготовленных из кристаллического кремния, работают в условиях высокого напряжения системы во влажной среде, то производительность может резко упасть. Такая деградация называется деградацией, вызванной разностью потенциалов (PID), и может привести к полному отказу пораженных солнечных батарей. Согласно сообщению Центра CSP Фраунгофера, Нойманну и его команде удалось выяснить физические причины такой деградации и смоделировать этот процесс.
Исследования на уровне микроструктуры показали, что дефекты в кристаллической решетке кремния вызывают короткое замыкание, которое отвечает за деградацию, вызванную разностью потенциалов. Такое нарушение порядка чередования слоев в решетке называют дефектом кристаллической решетки, его длина составляет всего несколько микрометров, а толщина как раз один атомный слой, говорится далее в сообщении научно-исследовательского института. Короткое замыкание вызывается проникновением атомов натрия в кремний, из которого состоит фотоэлемент.
Основываясь на полученных данных в институте CSP Фраунгофера совместно с компанией Freiberg Instruments был разработан прибор, который измеряет восприимчивость фотоэлементов к этому эффекту. С помощью «PIDcon» впервые тест на деградацию, вызванную разностью потенциалов, согласно стандарту DIN (SPEC 91348), стал проводиться на фотоэлементах без необходимости испытания солнечных батарей в больших климатических камерах. Вместо этого теперь стало возможным проводить тест PID на отдельных, неинкаплусированных фотоэлементах быстро и без больших материальных, энергетических и трудовых затрат. Тестер «PIDcon» продается уже с 2014 года.
Источник: https://www.pv-magazine.de/2017/04/26/fraunhofer-wissenschaftler-erhaelt-innovationspreis-fuer-pid-testverfahren/